即是IC測試治具的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，頂上是IC芯片，中心是探針，通過準(zhǔn)確定位探針能夠很準(zhǔn)確測觸摸零點幾的焊盤和錫球。
由于IC測試治具適用于功能性測試的，那么有很多特別的功能芯片，就需要不一樣的規(guī)劃，例如大電流，需要規(guī)劃大電流探針或許大電流的觸摸塊；例如，高頻，需要同軸連接器，或許說需要需要做好阻隔；又例如，數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片，需要做好數(shù)模地的切割，所以做治具的時分需要判斷PCB的地切割狀況來規(guī)劃。
按照芯片類型可以分為CCD相機、CMOS相機；按照傳感器的結(jié)構(gòu)特功可以分為線陣相機、面陣相機；按照掃描辦法可以分為隔行掃描相機、逐行掃描相機；按照分辨率大小可以分為一般分辨率相機、高分辨率相機；按照輸出信號辦法可以分為模仿相機、數(shù)字相機；按照輸出顏色可以分為單色（是非）相機、五顏六色相機；按照輸出信號速度可以分為一般速度相機、高速相機；按照響應(yīng)頻率范圍可以分為可見光（一般）相機、紅外相機、紫外相機等。
IC測試治具探頭一般有多種標(biāo)準(zhǔn)。針主要由三部分組成：一部分是針管，主要用銅合金鍍金；另一部分是彈簧，主要用鋼琴絲和彈簧鋼鍍金；第三部分是針，主要用工具鋼（SK）鍍鎳或鍍金。上述三個部分組裝成探針。
IC測試治具的探針主要在這里同享。此外，不同包裝形式的探頭的標(biāo)準(zhǔn)也不同。為了確保探頭符合要求，有必要對符合要求的探頭類型進(jìn)行認(rèn)證，確保實驗順利完成。探針是集成電路測試中的一個重要組成部分，因此，為了確保測試的性能，我們應(yīng)該愈加注重探針的選擇和購買。
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